MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
04_Microscopia electronică_site.pptx
Microscop electronic cu baleiaj (SEM) – ECOMET
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
04_Microscopia electronică_site.pptx
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
MICROSCOPIA ELECTRONICA CU SCANARE
Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
Microscopie | PDF
Microscopia Electronica de Baleiaj | PDF
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
TEZĂ DE DOCTORAT
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
De ce au nevoie profesionistii din domeniile industriale de microscoape electronice
04_Microscopia electronică_site.pptx
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
TEZĂ DE DOCTORAT
Sistem modular de elemente multifunctionale cu deplasare auto-adaptiva | Etapa IV
Microscopul Electronic | PDF
04_Microscopia electronică_site.pptx
TEZĂ DE DOCTORAT
04_Microscopia electronică_site.pptx
Microscopie electronică cu scanare SEM
